رقم الجزء 120

Semiconductor Device Test Set

الأسعار والتوافر

أرسل هذا النموذج لمعرفة الأسعار الحالية وتوافر NSN هذا.

التسعير التاريخي لهذا المنتج هو بين 1380.2 and 1863.27 USD. اعتمادا على الكمية والتوافر والحالة والمهلة الزمنية والتوقف المحتمل للعنصر ، لا يمكننا ضمان التسعير حتى نقدم لك عرض أسعار محدث.

رقم الجزء

تجريد

صلاحيه

UOM

NIIN

رقم الجزء:

120

تجريد:

صلاحيه:

N/A

وحدة القياس:

1 EA

NIIN:

003679323

NSN

رقم المخزون الوطني:

6625-00-367-9323 6625003679323

TXT

وصف:

Semiconductor Device Test Set

INC

رمز اسم العنصر:

25006

MRC:

An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ

Inclosure Feature:

Single item w/housing

MRC:

Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY

Test Type For Which Designed:

Measurement of transistors

MRC:

The alpha-numeric designation that identifies the classification of the item according to the category of functions performed.FCLS

Functional Classification:

Aa-9.3

MRC:

Characteristics or qualities of an item,not covered in any other requirement,which are considered essential information for one or more functions excluding nsn assignment.SUPP

Supplementary Features:

Manufacturers name: transistor test set

رمز	تعريف
FN	مصنع جديد. الأجزاء المصنعة من قبل OEM ثم وتشمل شهادة الشركة المصنعة.
NE	الجديد. الأجزاء المصنعة من قبل OEM. قد تشمل شهادة الشركة المصنعة أو شهادة الشركة.
NS	فائض جديد. عنصر مادي جديد تم شراؤه من المخزون الزائد.
OH	اصلحت. تم إعادة بناء المنتج واختباره وفقا لمواصفات الشركة المصنعة من قبل ورشة إصلاح (MRO).
SV	منتج قابل للخدمة
AR	كما تمت إزالته. تمت إزالة المنتج من الطائرة أو المنصة بدون ضمان على وظائف الجزء.
RP	اصلاحها. يمكن إصلاح المنتج بواسطة MRO والحصول على شهادة FAA 8130 أو EASA Form 1.

رقم الجزء 120

الأسعار والتوافر

{lang[cimilar]} Semiconductor Device Test Sets

قارن الآن»