رقم الجزء 5-627

Electronic Circuit-comp Test Set
وصف

Signal tracker

الأسعار والتوافر

أرسل هذا النموذج لمعرفة الأسعار الحالية وتوافر NSN هذا.
رقم الجزء:
كم:
عنوان البريد الإلكتروني:
الهاتف:
مرجع:
شركة:
اسم:

نحن لا نشارك أو نبيع معلوماتك لأي شخص.
الخصوصيه | حيث

All major credit cards accepted as well as gov. p-cards

التسعير التاريخي لهذا المنتج هو بين 5469.243 and 7152.087 USD. اعتمادا على الكمية والتوافر والحالة والمهلة الزمنية والتوقف المحتمل للعنصر ، لا يمكننا ضمان التسعير حتى نقدم لك عرض أسعار محدث.

رقم الجزء
تجريد
صلاحيه
UOM
NIIN
رقم الجزء:
5-627
تجريد:
No
صلاحيه:
N/A
وحدة القياس:
1 EA
NIIN:
012177608

معلومات الجزء
Test set electronic circuit-component: 105-130v 50/60hz

NSN
رقم المخزون الوطني:
6625-01-217-7608 6625012177608
TXT
وصف:
Electronic Circuit-comp Test Set
INC
INC
رمز اسم العنصر:
77777
MRC:
Those unusual or unique characteristics or qualities of an item not covered in the other requirements and which are determined to be essential for identification.FEAT
Special Features:
Has 3 selectable impedance ranges and output frequency ranges; operates on 120/230 vac, 50/60 hz, singles phase; comes w/protection cover or carrying case; designed to test unpowered circuits and devices in maintenance of medical equipment; has pulse generation capabilities w/a selectable range from 60 hz to 2 khz; output amplitude at least 0 to 5 volts peak, current up to 50 ma and impedance of 100 ohms; unit selector switc (s) /terminals describe function, range and/or test; provisioned as follows: dpsc-a special equipment commercial service manual; dpsc-b special equipment commercial operating/instruction manual; di-ilss-80867 special equipment consumable/durable support item list
MRC:
A recording of the physical,functional,and performance characteristics for an item of supply.TEXT
General Description:
For testing capacitors for shorts, opens, and leakage from 0.001 to 25 micro farads. Tests resistance circuits for shorts and/or opens. Tests semiconductor devices for leakage, shorts and open bonding, to include zenor diodes, bipolar transistors, triacs, and opteoelectronic devices. Tests integrated circuits for component failure.

{lang[cimilar]} Electronic Circuit-comp Test Sets

« Electrical and Electronic Properties Measuring and Testing Instruments {lang[catalog]}
قارن الآن»
واضح | أخفى