رقم الجزء HTR1005B-1ES

Semiconductor Device Test Set

الأسعار والتوافر

أرسل هذا النموذج لمعرفة الأسعار الحالية وتوافر NSN هذا.

رقم الجزء

تجريد

صلاحيه

UOM

NIIN

رقم الجزء:

htr1005b-1es

تجريد:

صلاحيه:

وحدة القياس:

NIIN:

012163258

NSN

رقم المخزون الوطني:

6625-01-216-3258 6625012163258

TXT

وصف:

Semiconductor Device Test Set

INC

رمز اسم العنصر:

25006

MRC:

A measurement taken at right angles to the length of an item,in distinction from thickness.ABGL

Width:

250.0 millimeters

MRC:

The value,or range of values,of root mean square potential for which the item is rated.ACYN

Ac Voltage Rating:

220.00 volts

MRC:

The number of complete cyclic changes,per unit of time,for which an item is rated.ACZB

Frequency Rating:

Between 50.0 hertz and 60.0 hertz

MRC:

A linear measurement from the surface to a specified inner point on an item,in distinction from height.AEJZ

Depth:

286.0 millimeters

MRC:

The relationship of the electrical power source to the item.AKWC

Electrical Power Source Relationship:

Operating

MRC:

An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ

Inclosure Feature:

Single item w/carrying case

MRC:

Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY

Test Type For Which Designed:

In-circuit testing of componets

MRC:

A measurement from the bottom to the top of an object,in distinction from depth.HGTH

Height:

86.0 millimeters

رمز	تعريف
FN	مصنع جديد. الأجزاء المصنعة من قبل OEM ثم وتشمل شهادة الشركة المصنعة.
NE	الجديد. الأجزاء المصنعة من قبل OEM. قد تشمل شهادة الشركة المصنعة أو شهادة الشركة.
NS	فائض جديد. عنصر مادي جديد تم شراؤه من المخزون الزائد.
OH	اصلحت. تم إعادة بناء المنتج واختباره وفقا لمواصفات الشركة المصنعة من قبل ورشة إصلاح (MRO).
SV	منتج قابل للخدمة
AR	كما تمت إزالته. تمت إزالة المنتج من الطائرة أو المنصة بدون ضمان على وظائف الجزء.
RP	اصلاحها. يمكن إصلاح المنتج بواسطة MRO والحصول على شهادة FAA 8130 أو EASA Form 1.

رقم الجزء HTR1005B-1ES

الأسعار والتوافر

{lang[cimilar]} Semiconductor Device Test Sets

قارن الآن»