رقم الجزء TF26

Semiconductor Device Test Set

أرسل هذا النموذج لمعرفة الأسعار الحالية وتوافر NSN هذا.

رقم الجزء

تجريد

صلاحيه

UOM

NIIN

رقم الجزء:

tf26

تجريد:

صلاحيه:

N/A

وحدة القياس:

1 EA

NIIN:

005286768

معلومات الجزء
Go/no go test in or out of circuit; connect test leads in any order ; rotating switch; order probe separately for testing pc boards

NSN

رقم المخزون الوطني:

6625-00-528-6768 6625005286768

TXT

وصف:

Semiconductor Device Test Set

INC

رمز اسم العنصر:

25006

MRC:

An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ

Inclosure Feature:

Single item w/housing

MRC:

Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY

Test Type For Which Designed:

Transistor tester

MRC:

The number of alternating current phases.FAAZ

Phase:

Single

رمز	تعريف
FN	مصنع جديد. الأجزاء المصنعة من قبل OEM ثم وتشمل شهادة الشركة المصنعة.
NE	الجديد. الأجزاء المصنعة من قبل OEM. قد تشمل شهادة الشركة المصنعة أو شهادة الشركة.
NS	فائض جديد. عنصر مادي جديد تم شراؤه من المخزون الزائد.
OH	اصلحت. تم إعادة بناء المنتج واختباره وفقا لمواصفات الشركة المصنعة من قبل ورشة إصلاح (MRO).
SV	منتج قابل للخدمة
AR	كما تمت إزالته. تمت إزالة المنتج من الطائرة أو المنصة بدون ضمان على وظائف الجزء.
RP	اصلاحها. يمكن إصلاح المنتج بواسطة MRO والحصول على شهادة FAA 8130 أو EASA Form 1.